浮遊粒子濃度監視における課題とその解決提案
日時
2024年6月11日(火)14:00~14:30
2024年6月13日(木)14:00~14:30
概要
概要:半導体、フィルム、電子機器、医薬品などの製造工程では、空気中の浮遊粒子濃度が製品品質や歩留まりに直結するため、クリーンルームなどで厳格な管理が行われている。
このような浮遊粒子を測定するためには、一般的に高額・高性能なパーティクルカウンタが用いられている。このとき、測定対象とする空間が広い場合には、多数の測定が必要となるため、測定作業に時間や労力がかかることが課題である。
本セミナーでは、このような浮遊粒子測定の課題における課題解決を目的とした情報提供を行う。具体的には神栄テクノロジーで製造販売するパーティクルセンシングモニターは、Class1,000~100,000の清浄度クラスの浮遊粒子濃度環境を数値化する常時監視型センサであり、低価格のため、多点に設置しやすいことと、専用ゲートウェイとソフトウェアの活用により、比較的容易に浮遊粒子測定環境システムを構築することが出来る。また空気清浄度測定サービスでは、弊社がモニター準備、測定からレポート作成まで一気通貫で提供するサービスであり、多数モニタリングの有効性確認やワーストポイントの特定などに効果的である。このような製品サービスを活用することで、クリーンルーム内の環境測定の課題解決に貢献する。
※内容は予告なく変更する場合があります。
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